本次展覽會將主要展出針對AI服務器日益大型化和復雜化而開發設計的、用于高端電路板的最新電氣檢測設備“GATS-8360”,以及近年來備受關注的用于功率半導體的檢測裝置“NATS系列”。

此外,我們還將在展會上介紹一款兼具高速高性能和性價比的、用于HDI基板的新型電氣檢測裝置“STAR REC-M1”。

今后,本公司將繼續以行業高水平的測量和檢測技術為全球的制造業做貢獻。

〈參展概要〉

・會 期:2025年3月6日(周四)～3月8日(周六)

・會 場:曼谷國際貿易展覽中心(BITEC)

・展 位:PCB Area B414

〈參展產品〉

・AI服務器大型基板電氣檢測系統“GATS-8360”

・用于HDI/PCB基板的導通/短路檢測裝置“STAR REC系列”

・用于車載基板的導通/短路檢測裝置“STAR REC-V5Ⅲ”

・用于IGBT/SiC模塊的絕緣/靜態特性/動態特性檢測裝置“NATS-1000/1700系列”

・用于功率半導體模塊的動態可靠性測試的試驗裝置“NATS-8000系列”

・適用于高密度基板的光學2D/3D檢測裝置“RSH系列”

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